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低溫探針臺的主要特性 低溫探針臺是一種重要的實驗儀器，可用來測試芯片、晶圓片和封裝器件，應用領(lǐng)域包括半導體、MEMS、超導、鐵電子學、材料科學等。那么低溫探針臺的主要特性都有哪些呢？下面鍵德測試測量小編就來為大家介紹下。 溫度控制：低溫探針臺能夠精確控制測試區(qū)域的溫度，通常溫度范圍在3K675K(或8K475K等)，以適應不同材料的測試需求。 真空環(huán)境：為了排除環(huán)境因素的影響，低溫探針臺通常具有真空密封系統(tǒng)，以將整個實驗區(qū)域與外部環(huán)境隔離開來，提供穩(wěn)定準確的真空探測環(huán)境。 磁場施加：部分低溫探針臺還可以施加磁場(如電磁鐵)，以研究材料在磁場作用下的性能變化。 高精度測量：低溫探針臺配備了高精度的測量電路和探針系統(tǒng)，能夠?qū)悠返奈⑿∽兓M行精確測量。 綜上所述，就是低溫探針臺的主要特性了，低溫探針臺能夠?qū)y試區(qū)域的溫度穩(wěn)定控制在液氦溫度(4.2K)或者更低的溫度下，以滿足超導材料、半導體器件等在極低溫下工作的需要。 |
