探針臺(tái)是一種用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片、封裝器件或其他電子設(shè)備的測(cè)試平臺(tái)，它通過探針與被測(cè)器件接觸，實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)器件的電流、電壓、電阻等電性能參數(shù)的測(cè)量。但在芯片研發(fā)和制造過程中，對(duì)設(shè)備的測(cè)試能力要求越來(lái)越高，因此我們需要根據(jù)芯片的各種測(cè)試要求提供不同的探針臺(tái)，那么探針臺(tái)都有哪些分類呢？下面鍵德測(cè)試測(cè)量小編就來(lái)為大家詳細(xì)介紹下。

　　探針臺(tái)一般根據(jù)用戶測(cè)試樣品、測(cè)試環(huán)境、應(yīng)用類別、產(chǎn)品級(jí)別以及操作方式分類，具體如下：

　　1、按測(cè)試樣品分類，可分為：晶圓測(cè)試探針臺(tái)、LED測(cè)試探針臺(tái)、功率器件測(cè)試探針臺(tái)、MEMS測(cè)試探針臺(tái)、PCB測(cè)試探針臺(tái)、液晶面板測(cè)試探針臺(tái)、太陽(yáng)能電池片測(cè)試探針臺(tái)、材料表面電阻率測(cè)試探針臺(tái)、納米器件測(cè)試探針臺(tái);

　　2、按應(yīng)用及測(cè)試環(huán)境分類，可分為：高頻、射頻及微波測(cè)試探針臺(tái)、高/低溫環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、高/低溫真空環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、低電流(fA級(jí))測(cè)試探針臺(tái)、IC/IV /p-IV測(cè)試探針臺(tái)、高壓、大電流測(cè)試探針臺(tái)、特殊氣體環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、磁場(chǎng)環(huán)境測(cè)試探針臺(tái)、雙面點(diǎn)針測(cè)試探針臺(tái)、全封閉式探針臺(tái)(非真空環(huán)境);

　　3、按級(jí)別分類可分為：簡(jiǎn)易型探針臺(tái)、標(biāo)準(zhǔn)型探針臺(tái)、分析型探針臺(tái)、高端型探針臺(tái);

　　4、按操作方式可分為：手動(dòng)型、半自動(dòng)型、全自動(dòng)型;

　　5、按特殊應(yīng)用測(cè)試分為：非標(biāo)準(zhǔn)類結(jié)構(gòu)測(cè)試探針臺(tái)。

　　綜上所述，就是探針臺(tái)的分類了，鍵德測(cè)試測(cè)量是一家專注于手動(dòng)探針臺(tái)的企業(yè)，其研發(fā)生產(chǎn)的探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于DC測(cè)試、射頻測(cè)試、負(fù)載牽引測(cè)試、磁場(chǎng)測(cè)試、光電流測(cè)試以及超導(dǎo)測(cè)試等先進(jìn)的半導(dǎo)體電學(xué)表征測(cè)試。大家如果有探針臺(tái)的需要可以隨時(shí)聯(lián)系鍵德測(cè)試測(cè)量，我們隨時(shí)為您服務(wù)!